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XGT型光谱中性衰减低透过率模拟器 计量仪器

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XGT型光谱中性衰减低透过率模拟器 计量仪器

 

在仪器测定波长名义值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范围内，对于衰减比为10%、1%，其衰减相对变化不超过±20%。透过率光谱中性衰减模拟器的内应力对旋光度影响不超过仪器的最小分度示值。

 

技术参数

在仪器测定波长名义值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范围内，对于衰减比为10%、1%，其衰减相对变化不超过±20%。透过率光谱中性衰减模拟器的内应力对旋光度影响不超过仪器的最小分度示值。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

在仪器测定波长名义值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范围内，对于衰减比为10%、1%，其衰减相对变化不超过±20%。透过率光谱中性衰减模拟器的内应力对旋光度影响不超过仪器的最小分度示值。

 

技术参数

在仪器测定波长名义值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范围内，对于衰减比为10%、1%，其衰减相对变化不超过±20%。透过率光谱中性衰减模拟器的内应力对旋光度影响不超过仪器的最小分度示值。

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